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作者: wu.hn8401
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    [業界新聞] ETSI檔證實蘋果nano-SIM設計稱為新標準

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    1#
    wu.hn8401 發表於 2012-6-10 13:01:22 | 只看該作者 |只看大圖 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
    ETSI檔證實蘋果nano-SIM設計稱為新標準
    此前ETSI宣佈他們已經確定了新的4FF nano-SIM標準，但是由於蘋果、RIM和摩托羅拉均提交了下一代nano-SIM標準，所以但是還無法確定採用的是哪一個廠商的標準。日前ETSI終於在其官網上公佈了檔證實新的nano-SIM標準使用的是由蘋果公司提出來的原始設計標準。
    0825190827385875.jpg

    ETSI在檔中表示：4FF的寬度為12,3 mm ± 0,1 mm，高度為8,8 mm ± 0,1 mm，厚度為0,67 mm + 0,03 mm/-0,07 mm。只要寬度和高度符合ID-1 UICC尺寸大小、厚度符合4FF厚度標準的SIM卡中均可以選擇4FF。這樣4FF在卡中的具體位置應該是距離SIM卡頂部18,22 mm，與SIM卡左邊邊緣的距離為9,25 mm。
    所以最終蘋果在和諾基亞/RIM/摩托羅拉的競爭中勝出。ETSI選擇蘋果不管是介於蘋果的影響力還是因為蘋果提出的保守設計，這場關於nano-SIM標準的戰爭總算結束了，未來SIM卡的外形肯定很符合蘋果的心意吧！
    08251911958526303.jpg

    文/威鋒網

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