[情報] 泰瑞達推出D750Ex高密度LCD驅動IC測試系統

泰瑞達(Teradyne)於今日宣布，推出最新的D750Ex LCD驅動IC測試系統。D750Ex為專門設計用以測試高解析度LCD驅動器IC。此系統為奇景光電(Himax)所採用，用以測試其下一代的大尺寸驅動器與手機驅動IC。

D750Ex系統提供了一個每腳端(Pin)高密度資源的架構，可支援整體程式超過97%的平行測試效率。D750Ex 也同時具備嵌入式DSP與中央式DSP 的架構，可增加處理效能。此系統的體積很小，與必須同時使用大型電腦櫃和測試頭的競爭對手系統相較，所需的空間減少了 50-85%。


D750Ex採用一萬用介面埠(Universal Slot)的架構，可根據設備測試需求將多種類型設備放置於同一系統中。D750Ex也提供了記憶體測試選項(Memory Test Option, MTO)，無須額外的埠即可在一次完成測試行動驅動IC。在競爭對手的系統上，行動設備必須於兩個平台上測試，一個平台測試LCD，另一個平台測試記憶體。D750Ex適用於各通道的「任一腳端」架構，大幅簡化了探針卡的設計，也使得多點測試的開發環境更為彈性。


奇景光電的技術長蔡志忠表示，我們選擇D750Ex是因為這套系統生產效能高、體積小，非常能符合我們在生產、產品上市以及測試成本方面的需求。D750Ex 的彈性轉換功能讓我們不但可以測試LCD驅動IC，也能於同一平台上測試邏輯設備。


Teradyne LCD驅動IC業務部的總經理George Rose表示，LCD驅動器的市場主要由各種消費者產品來推動，大至平面電視和電腦螢幕，小至行動電話等產品。消費者對這些產品的品質、複雜度等要求越來越高，因此用來測試這些產品驅動IC的方法也必須越來越好。抱著這樣的想法，我們與LCD 驅動器技術中具備領導地位的奇景光電合作，以幫助我們開發D750Ex高密度架構，找出這個市場中最重要的測試方法。


Rose強調，LCD 驅動器市場對於成本相當敏感，開發D750Ex時，便將J750的成本優勢延續下來。如體積小、產能大、低成本等等。Teradyne還擴張了D750Ex的腳端密度與設定彈性，讓我們得以提供LCD驅動器IC製造商更具成本效益的解決方案，將他們的成功更往上推進一步。


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